手法のご紹介
こちらのページでは、代表的な目的とその目的に応じた手法、
及びその際に用いる装置についてご紹介しています。
掲載しているのはほんの一部です。
この他にも多くの手法がございますのでお気軽にお問合せください。
一般的な目的
項目
手法説明
装置
一般的な目的
微量無機成分の分析
項目
ICP-MS
手法説明
物質中の無機不純物の高感度元素分析
一般的な目的
極最表面(<1nm)の
元素分析
項目
AES
手法説明
物質表面から励起されたオージェ電子を利用した表面分析法
一般的な目的
ミクロレベルでの観察
項目
SEM
手法説明
物質表面から励起された2次電子や反射電子を利用した表面観察法
一般的な目的
ナノレベルでの観察
項目
TEM
手法説明
高加速度の電子線を入射し超高倍率の透過像を観察する手法(薄膜の直接観察／欠陥・転位観察／結晶格子像観察)
一般的な目的
原子レベルでの観察・分析
項目
STEM
手法説明
高加速度の電子線を入射し超高倍率の透過像観察と同倍率での分析
一般的な目的
ボイドの観察
項目
SAT
手法説明
超音波の反射を利用した非破壊検査装置
一般的な目的
極最表面(<1nm)の
元素分析と結合状態分析
項目
XPS
手法説明
X線照射により生じる光電子エネルギーを利用した表面分析
一般的な目的
化学結合状態、結晶状態、膜厚計測、残留応力測定
などを分析
項目
XRD
手法説明
Ｘ線を照射し、得られた回折パターンより物質の構造解析を行う手法
一般的な目的
疲労損傷との相関評価
項目
振動試験
手法説明
構造体に加速度を与える試験
一般的な目的
野外暴露との相関性評価
項目
ヒートサイクル試験
手法説明
塩水噴霧・乾燥・湿潤・外気導入のサイクル試験
一般的な目的
各種金属材料の耐食性評価
項目
電気化学試験
手法説明
腐食電気測定やアノード分極極性測定の計測
