手法のご紹介

こちらのページでは、代表的な目的とその目的に応じた手法、
及びその際に用いる装置についてご紹介しています。
掲載しているのはほんの一部です。
この他にも多くの手法がございますのでお気軽にお問合せください。

一般的な目的

項目

手法説明

装置

一般的な目的

Analysis

微量無機成分の分析

項目

ICP-MS

手法説明

物質中の無機不純物の高感度元素分析

一般的な目的

Analysis

極最表面(<1nm)の
元素分析

項目

AES

手法説明

物質表面から励起されたオージェ電子を利用した表面分析法

一般的な目的

Observation

ミクロレベルでの観察

項目

SEM

手法説明

物質表面から励起された2次電子や反射電子を利用した表面観察法

一般的な目的

Observation

ナノレベルでの観察

項目

TEM

手法説明

高加速度の電子線を入射し超高倍率の透過像を観察する手法(薄膜の直接観察/欠陥・転位観察/結晶格子像観察)

一般的な目的

Analysis Observation

原子レベルでの観察・分析

項目

STEM

手法説明

高加速度の電子線を入射し超高倍率の透過像観察と同倍率での分析

一般的な目的

Observation

ボイドの観察

項目

SAT

手法説明

超音波の反射を利用した非破壊検査装置

一般的な目的

Analysis

極最表面(<1nm)の
元素分析と結合状態分析

項目

XPS

手法説明

X線照射により生じる光電子エネルギーを利用した表面分析

一般的な目的

Analysis

化学結合状態、結晶状態、膜厚計測、残留応力測定
などを分析

項目

XRD

手法説明

X線を照射し、得られた回折パターンより物質の構造解析を行う手法

一般的な目的

Evaluation

疲労損傷との相関評価

項目

振動試験

手法説明

構造体に加速度を与える試験

一般的な目的

Evaluation

野外暴露との相関性評価

項目

ヒートサイクル試験

手法説明

塩水噴霧・乾燥・湿潤・外気導入のサイクル試験

一般的な目的

Evaluation

各種金属材料の耐食性評価

項目

電気化学試験

手法説明

腐食電気測定やアノード分極極性測定の計測