手法のご紹介
こちらのページでは、代表的な目的とその目的に応じた手法、
及びその際に用いる装置についてご紹介しています。
掲載しているのはほんの一部です。
この他にも多くの手法がございますのでお気軽にお問合せください。
一般的な目的
項目
手法説明
装置
一般的な目的
ミクロレベルでの観察
項目
SEM
手法説明
物質表面から励起された2次電子や反射電子を利用した表面観察法
一般的な目的
ナノレベルでの観察
項目
TEM
手法説明
高加速度の電子線を入射し超高倍率の透過像を観察する手法(薄膜の直接観察/欠陥・転位観察/結晶格子像観察)
一般的な目的
ボイドの観察
項目
SAT
手法説明
超音波の反射を利用した非破壊検査装置
一般的な目的
疲労損傷との相関評価
項目
振動試験
手法説明
構造体に加速度を与える試験
一般的な目的
各種金属材料の耐食性評価
項目
電気化学試験
手法説明
腐食電気測定やアノード分極極性測定の計測